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    白光幹涉薄膜厚度測試儀

    更新時間：2023-06-29

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    浏覽量 ：2298

    白光幹涉薄膜厚度測(cè)試儀，TF200根據反射回來的幹涉光，用反複校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測(cè)量範圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測(cè)試。對於(yú)100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
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