胤煌科技-光阻法不溶性微粒分析儀檢查原理及技術參數

　　YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是按照《CP/USP/JP/EP等藥典-不溶性微粒檢查-第一法-光阻法》檢查規定設計和研發的，主要用於(yú)注射劑通則提到的相關注射劑、輸液器具及相關包材的不溶性微粒研究。該設備採(cǎi)用高性能激光光源及補償電路，進樣狹縫及管路採(cǎi)用進口316L及進口PEFE材料，可以直接用於(yú)不同介質的不溶性微粒研究。

　　技術參數方面，YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀有多種型号可供選擇，包括LEIP-6A、LEIP-6AS、LEIP-8A、LEIP-8AS、LEIP-16A、LEIP-16AS、LEIP-32A、LEIP-32AS、LEIP-64A、LEIP-64AS以及LEIP-100A。不同型号之間的區别主要在於通道數量、審計追蹤功能、計數範圍等方面。例如，LEIP-6A沒有審計追蹤功能，而LEIP-6AS則具有此功能;LEIP-100A的通道數量最多，爲100個。

　　另外，該設備(bèi)的檢查範圍爲1~700μm，相對标準偏差≤1.5%(标準粒子≥1000粒/ml)，微粒檢查密度爲0~20000粒/ml，通道分辨率≥95%(≥10μm通道)。攪拌速度爲0~2000轉/分，速度可調。工作電(diàn)源爲220V，50Hz，工作溫度爲0~40℃。

　　總結來說，YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是一款符合藥典标準的專業設備，适用於不同類型的不溶性微粒研究。用戶可根據自身需求選擇合适型号的産品，並(bìng)瞭(le)解其具體的技術參數，以便正確使用和維護。