超聲電聲法Zeta電位儀操作注意事項

　　粒子表面存在的淨電荷，影響粒子界面周圍區域的離子分布，導緻接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。於(yú)是，每個粒子周圍均存在雙電層
。繞粒子的液體層存在兩部分：一是内層區，稱爲緊密層（stern層），其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是擴散層，其中離子松散地與粒子相吸附。在分散層内，有一個抽象邊界，在邊界内的離子和粒子形成穩定實體。當粒子運動時，在此邊界内的離子随著(zhe)粒子運動，但此邊界外的離子不随著(zhe)粒子運動。這個邊界稱爲流體力學剪切層或滑動面（slipping plane）。在這個邊界上存在的電位即稱爲zeta電位。

　　超聲(shēng)電(diàn)聲(shēng)法Zeta電(diàn)位儀操作注意事項：

　　1、若要進行酸堿滴定測(cè)等電點或測(cè)PH值，則每次實驗前須校正PH探針；若要測(cè)試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次；

　　2、每次更換樣品均需清洗主探頭、PH探針以及容器，建議擦幹(gàn)，以免前面殘(cán)留粉末影響實驗結果；

　　3、實驗結束後要清洗主探頭、PH探針和容器，並(bìng)将PH探針放回酸性緩沖(chōng)液中；

　　4、若進行酸堿滴定則每次關(guān)機(jī)前需将酸堿滴定管清洗3~5次。

　　超聲電聲法Zeta電位儀較大顆粒的樣品濃度上限，由其引起多重散射的趨勢決定。雖然Zetasizer對多重散射不是十分敏感，但随著(zhe)濃度增加，多重散射效應越來越占優勢，在達到某一濃度時，生成過多的多重散射，會影響測量結果。當然，如此高的濃度不應用於準確測量，上表中給出瞭(le)不同粒徑粒子濃度的粗略估算。通用規則是，在多重散射和粒子相互作用影響結果之前，以可能的濃度進行測量。可以假定樣品中的灰塵污染對高濃度和低濃度是相同的，因此樣品濃度增加，從樣品得到的散射光強相對灰塵散射光強有所增加。