多孔材料表面Zeta電位分析儀

多孔材料表面Zeta電位分析儀

原理簡介：

APS 從聲衰減光譜測(cè)量産(chǎn)生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度範圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜
、pH、電導率和溫度。

當聲音穿越泥漿或膠體時，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1 - 100 MHz的頻率範圍内非常準確(què)地測量聲音衰減。因爲聲音穿過所有的物質媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降並(bìng)不是一個問題，因爲在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費時，容易出錯，並(bìng)可能改變(biàn)樣品的實際PSD。簡單地倒，或者連續泵送樣品進入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鍾内做玩餘下的工作。

計算詳細PSD數據的技術
，不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著(zhe)軟件或操作者假設或猜測(cè)PSD是單峰、雙峰、對數正态或高斯分布的。這種假設可能導緻數據不可靠。

專門的APS硬件設計簡化瞭(le)操作，同時減少維護。這個設計适合研發以及重複質量控制測(cè)量。APS也适合過程在線操作。

多孔材料表面Zeta電位分析儀

主要用途：

1)半導(dǎo)體化學機(jī)械抛光(CMP)料漿；

2)陶瓷；

3)油墨；

4)乳劑穩定性；

5)藥品；

6)生物膠體；

7)熒光粉；

8)有機(jī)和無(wú)機(jī)顔料如Ti02和炭黑；

9)催化劑；

10)礦物；

11)聚合物乳液；

12)水和非水分散體系；

技術參數：

1)完整的粒度分布,而不是簡(jiǎn)單(dān)的平均值和标準偏差大小的數據；

2)不需要稀釋樣品；

3)不需要假設(shè)PSD形狀(zhuàng)；

4)粒度範(fàn)圍(wéi)
：0.005-100微米；

5)無電解質幹涉；

6)可測(cè)量水的/非水的/不透明的/粘性的樣(yàng)品；

7)可測(cè)量縱向粘度，60%固體，PH值，電導(dǎo)率，溫度，聲衰減和聲速度譜；

8)具有自動滴定選項；

9)專門(mén)技術：1-100MHz聲衰減(jiǎn)譜；

10)溶劑：水/非水；

11)樣品固體(tǐ)%：0.1-60%體(tǐ)積(jī)比；

12)樣品體(tǐ)積(jī)：标準是120ml，50ml小體(tǐ)積(jī)可用；