美國MAS多功能超聲法粒度分析儀

美國MAS多功能超聲法粒度分析儀
美國MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30餘年曆史，是一家專注於超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發和生産型企業。 公司研發的納米粒度及Zeta電位儀系列産品，解決瞭目前市面上光學方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學方法必須要對樣品進行稀釋 後測試其粒徑和zeta電位以及對於複雜體系無法給出真實的粒度分布等 。目前，美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成，可以爲各行業提供專業的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是採用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波，由於不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導緻聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細準確的粒度分布。

主要特點：

1）能分析多種(zhǒng)分散物的混合體(tǐ)；

2）無需依賴Double Layer模式，準確(què)地判定等電點(diǎn)；

3）可适用於(yú)高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

5）可準確測量無水體系；

6）Zeta電位測(cè)試採(cǎi)用多頻電聲測(cè)量技術，無需先測(cè)量粒度即可進行電位測(cè)量；

7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測(cè)量；

8）具有自動電位滴定功能；
美國MAS多功能超聲法粒度分析儀

優於(yú)光學方法的技術優勢(shì)：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

3)不需定标；

4)能分析多種(zhǒng)分散物的混合體(tǐ)；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑範圍款從(cóng)5 nm至1000um

超聲(shēng)法原理粒度電(diàn)聲(shēng)法Zeta電(diàn)位分析儀

優於(yú)electroactics方法的技術優勢(shì)：

1)無需定标；

2)能測更寬的粒徑範圍；

3)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式

4)無需依賴(lài)( electric surface properties)電(diàn)表面特牲；

5)零表面電(diàn)荷條件下也可測(cè)量粒徑；

6)可适用於無水體系；

7)可适用於(yú)高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優於(yú)微電(diàn)泳方法的技術優勢：

1)無需稀釋(shì)，固合量高達(dá)60%；

2)可排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電(diàn)荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響(xiǎng)測(cè)量；

6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；

7)可準確測量無水體系；

技術參數：

1)所檢測(cè)粒徑範圍寬：從(cóng)5 nm至1000um；

2)可測(cè)量參(cān)數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電(diàn)位測(cè)量範圍：+/-500 mv，低表面電(diàn)荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電(diàn)荷條件下也可測(cè)量粒徑；

5)允許樣品濃(nóng)度：0.1-60%(體積(jī)百分數)；

6)樣品體(tǐ)積(jī)：30-230ml；

7)PH範(fàn)圍(wéi)：0~14;

8)電(diàn)導(dǎo)率範圍：0~10 s/m