ZetaAPS電位分析儀

ZetaAPS電位分析儀

典型應用：

綜合穩定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，塗料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禅選法礦物富集，食品工業，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。

主要特點：

1）能分析多種(zhǒng)分散物的混合體(tǐ)；

2）無需依賴Double Layer模式，精確(què)地判定等電點(diǎn)；

3）可适用於(yú)高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

5）可精確測量無水體系；

6）Zeta電位測(cè)試採(cǎi)用多頻電聲測(cè)量技術，無需先測(cè)量粒度即可進行電位測(cè)量；

7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測(cè)量；

8）具有自動(dòng)電(diàn)位滴定功能；

優於(yú)光學方法的技術優勢(shì)：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

3)不需定标；

4)能分析多種(zhǒng)分散物的混合體(tǐ)；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑範圍款從(cóng)5 nm至1000um

ZetaAPS電位分析儀

優於(yú)electroactics方法的技術優勢(shì)：

1)無需定标；

2)能測更寬的粒徑範圍；

3)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式

4)無需依賴(lài)( electric surface properties)電(diàn)表面特牲；

5)零表面電(diàn)荷條件下也可測(cè)量粒徑；

6)可适用於無水體系；

7)可适用於(yú)高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優於(yú)微電(diàn)泳方法的技術優勢：

1)無需稀釋(shì)，固合量高達(dá)60%；

2)可排除雜質及對(duì)樣品污染的幹(gàn)擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電(diàn)荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響(xiǎng)測(cè)量；

6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；

7)可精確測量無水體系；

技術參數：

1)所檢測(cè)粒徑範圍寬：從(cóng)5 nm至1000um；

2)可測(cè)量參(cān)數：粒度分布、固含量、Zeta電位
、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電(diàn)位測(cè)量範圍：+/-200 mv，低表面電(diàn)荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電(diàn)荷條件下也可測(cè)量粒徑；

5)允許樣品濃(nóng)度：0.1-60%(體積(jī)百分數)；

6)樣品體(tǐ)積(jī)：30-230ml；

7)PH範(fàn)圍(wéi)：0~14;

8)電(diàn)導(dǎo)率範圍：0~10 s/m