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  • ZetaAPS美國MAS粒度Zeta電位分析儀
    ZetaAPS美國MAS粒度Zeta電位分析儀

    更新時間 :2024-11-26

    型号:ZetaAPS

    浏覽量:3403

    美國MAS粒度Zeta電位分析儀可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。$n對於(yú)高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對於(yú)漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進行測(cè)量。
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  • Zeta-FinderZF400型超聲電聲法及Zeta電位分析儀
    Zeta-FinderZF400型超聲電聲法及Zeta電位分析儀

    更新時間:2025-06-18

    型号:Zeta-FinderZF400型

    浏覽量:3828

    超聲電聲法及Zeta電位分析儀採(cǎi)用專門的電動聲波振蕩技術,該儀器可完成非凡的電動測量結果,從而避免瞭(le)傳統的微電泳技術的許多限制和局限 ,該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指标。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作;
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  • CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
    CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

    更新時間:2021-08-19

    型号:CHDF3000型

    浏覽量:2289

    美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀$n精確(què)非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功於(yú)其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
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  • CHDF4000型美國MAS毛細管高分辨納米粒度儀
    CHDF4000型美國MAS毛細管高分辨納米粒度儀

    更新時間:2025-06-18

    型号:CHDF4000型

    浏覽量:3576

    美國MAS毛細管高分辨納米粒度儀CHDF4000是基於(yú)光散原理的儀器,使用新的技術對高分辨率的粒度分布(PSD)進行測(cè)量,包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動态範圍、納米粒子的優化分析;$nCHDF4000可提供完整範圍5納米至NM3微米,真實的PSD數據;$n通過粒子分離真正的PSD數據,關於(yú)粒子大小分布的形狀不需要假設;$n自動化操作,通過一個人性化界面即可完成全部操作
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  • ZetaZF400型美國MAS膠體zeta電位測定儀
    ZetaZF400型美國MAS膠體zeta電位測定儀

    更新時間:2025-06-18

    型号:ZetaZF400型

    浏覽量:3752

    美國MAS膠體zeta電位測定儀採用專門的電動聲波振蕩技術,該儀器可完成非凡的電動測量結果,從而避免瞭(le)傳統的微電泳技術的許多限制和局限。提供數據快速準確(què)而不需要稀釋樣品,從而避免瞭(le)稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋,Zeta電位将*改變);該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指标。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作;
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  • ZetaZF400型美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試
    ZetaZF400型美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試

    更新時間:2021-06-24

    型号:ZetaZF400型

    浏覽量 :2262

    美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測(cè)試 該儀器可同時測(cè)量Zeta電位、PH、電導、溫度等指标。樣品在測(cè)量時甚至可以進行滴定操作;堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用於(yú)樣品室或獨立的容器中;自動滴定法用於(yú)簡單的IEP測(cè)量;樣品可被強烈攪拌或混合,因此不會産生沉澱物;
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  • ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀
    ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀

    更新時間:2025-06-18

    型号:ZetaZF400型

    浏覽量:3875

    超聲電聲法Zeta電位分析儀可同時測(cè)量Zeta電位、PH、電導、溫度等指标。樣品在測(cè)量時甚至可以進行滴定操作;堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用於(yú)樣品室或獨立的容器中;自動滴定法用於(yú)簡單的IEP測(cè)量;樣品可被強烈攪拌或混合,因此不會産生沉澱物;
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  • 粒度電聲法Zeta電位分析儀
    粒度電聲法Zeta電位分析儀

    更新時間:2021-08-19

    型号:

    浏覽量:2710

    粒度電聲法Zeta電位分析儀,Zeta電位測(cè)試採(cǎi)用多頻電聲測(cè)量技術,無需先測(cè)量粒度即可進行電位測(cè)量;樣品的高濃度可達60%(體積比),被測(cè)樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測(cè)量;具有自動電位滴定功能;
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