納米粒度儀及電位分析儀_第(2)頁-上海胤煌科技有限公司

當前位置：首頁 > 産品中心 > 納米粒度儀及電位分析儀 >

産品分類

Product Category

納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

查看全部

AREPA型原液zeta電位分析儀

更新時間：2020-11-25

型号：AREPA型

浏覽量：4504

AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測(cè)量，工業加工狀态，不必稀釋樣品經硬件設計可全（24 hours/7 days）候運作，無需移動(dòng)部件實時控制的快速測(cè)量
瞭解詳情
CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

更新時間：2020-03-19

型号：CHDF4000型

浏覽量：4628

高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基於(yú)光散原理的儀器，使用新的技術對高分辨率的粒度分布（PSD）進行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動态範圍、納米粒子的優化分析；
瞭解詳情
CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

更新時間：2020-03-26

型号：CHDF4000型

浏覽量：3131

CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基於(yú)光散原理的儀器，使用新的技術對高分辨率的粒度分布（PSD）進行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動态範圍、納米粒子的優化分析； CHDF4000可提供完整範圍5納米至NM3微米，真實的PSD數據；通過粒子分離真正的PSD數據，關於(yú)粒子大小分布的形狀不需要假設；自動化操作，通過一個人性化界面即可完成全部操作
瞭解詳情
APS100納米粒度儀

更新時間：2020-11-25

型号：

浏覽量：3698

APS100納米粒度儀$n美國MAS公司成立至今有30餘年曆史，專注於(yú)超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發生産。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是採(cǎi)用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由於(yú)不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導緻聲波衰減程度不同。根據顆粒大小和聲波衰減之間的函數關系，得到顆粒的粒度分布。
瞭解詳情
AREPA 在線檢測AREPA 在線檢測納米分析儀

更新時間：2020-04-08

型号：AREPA 在線檢測

浏覽量：2988

AREPA 在線檢測(cè)納米分析儀這款新型的聲波傳感器粒徑測(cè)量可用在許多工業生産; 如加工管道、化學反應器、瓷磚印刷設備(bèi)、半導體 CMP 抛光、石油生産/加工、藥品輸送系統等，同時具有顯著的經濟效益。
瞭解詳情
MAS-APS-100超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀

更新時間：2023-05-05

型号：MAS-APS-100

浏覽量：2334

胤煌-超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度範圍從(cóng)0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒；
瞭解詳情
CHDF-4000胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測

更新時間：2023-03-24

型号：CHDF-4000

浏覽量：1976

胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測具有出色的分離技術，使得顆粒能夠自小到大排列進入檢測器 , 從而達到對不同顆粒進行 “ 計數 “ 的目的，超高的尺寸分分辨率有助於(yú) 操作者更加敏銳的發現細微粒度分布的變(biàn) 化。
瞭解詳情
zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時間：2023-03-17

型号：zeta-APS

浏覽量：2374

原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準備，從而消除瞭(le)操作失誤和數據的不確定性，同時節省瞭(le)時間； 2)物有所值的諧振硬件設計； 3)寬粒徑測量範圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用於(yú)簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動态測定； 5)由於(yú)機載樣品混合和/或測量時的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
瞭解詳情

共 47 條記錄，當前 2 / 6 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉到第頁