一文讀懂超聲電聲法Zeta電位儀

　　超聲電聲法Zeta電位儀是納米材料的一種重要表征參數。現代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大緻原理爲：通過電化學原理将Zeta電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動态光散射，運用波的多普勒效應測得。粒子表面存在的淨電荷影響粒子界面周圍區域的離子分布，導緻接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。

 

　　於(yú)是，每個粒子周圍均存在雙電層。圍繞粒子的液體層存在兩部分：一是内層區，稱爲Stern層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是外層分散區，其中離子不那麽緊密的與粒子相吸附。在分散層内，有一個抽象邊界，在邊界内的離子和粒子形成穩定實體。當粒子運動時（如由於(yú)重力），在此邊界内的離子随著(zhe)粒子運動，但此邊界外的離子不随著(zhe)粒子運動。這個邊界稱爲流體力學剪切層或滑動面（slippingplane）。在這個邊界上存在的電位即稱爲Zeta電位。

 

　　超聲電聲法Zeta電位儀的粒度測量方法：

　　（1）晶粒
：指單(dān)晶顆(kē)粒，即顆(kē)粒内爲單(dān)相，無晶界。

　　（2）一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨(dú)立的粒子。它能被電(diàn)子顯微鏡觀察到。

　　（3）團聚體：是由一次顆粒爲降低表面勢能而通過範(fàn)德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體内含有相互連接的孔隙網絡，它能被電(diàn)子顯微鏡觀察到。

　　（4）二次顆(kē)粒：指人爲制造的粉料團聚粒子。如陶瓷工藝中的“造粒”。目前所謂“納米材料”的功能絕(jué)大多數體現爲團聚體的功能，若能将團聚體分散成一次顆(kē)粒，則将表現出納米顆(kē)粒更多的特性。