常用的粒度測量方法

APS從聲衰減光譜測(cè)量産(chǎn)生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度範圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

當聲音穿越泥漿或膠體時，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1- 100MHz的頻率範圍内非常準確(què)地測量聲音衰減。因爲聲音穿過所有的物質媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降並(bìng)不是一個問題，因爲在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費時，容易出錯，並(bìng)可能改變(biàn)樣品的實際PSD。簡單地倒，或者連續泵送樣品進入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鍾内做玩餘下的工作。

計算詳細PSD數據的技術，不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著(zhe)軟件或操作者假設或猜測(cè)PSD是單峰、雙峰、對數正态或高斯分布的。這種假設可能導緻數據不可靠。

專門的APS硬件設計簡化瞭(le)操作，同時減少維護。這個設計适合研發以及重複質量控制測(cè)量。APS也适合過程在線操作。

常用的粒度測量方法：

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離(lí)心沉降法）

（3）電(diàn)阻法（庫爾(ěr)特顆粒計數器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法