電聲法zeta電位分析儀廣泛應用於生化研究等領域

　　顆粒表面Zeta電位的大小是表征懸浮液和膠體穩定性的重要參(cān)數
。當Zeta電位較高時，粒子之間表現爲排斥力大於(yú)吸引力，粒子傾向於(yú)分散，體系比較穩定；當Zeta電位較低時，粒子之間表現爲排斥力小於(yú)吸引力，粒子傾向於(yú)團聚，體系穩定性被破壞。

　　測量動态光散射（DLS）（也被稱爲準彈性光散射（QELS））的技術。其他DLS技術包括頻率分析和互相關函數。以懸浮在液體中並(bìng)由相幹光源照亮的微粒所散射的光的強度來測量時間依賴波動納，米級微粒特征描述所採(cǎi)用的主要技術。

　　電位溶出分析法包括兩個獨立而又有聯系的過程，即富集過程和溶出過程，溶出又有氧化溶出和還原溶出之分。在氧化溶出時，富集電位控制在被測(cè)離子還原電位更負一些的電位上，使金屬離子還原生成汞齊而富集於(yú)電極表面。電解富集一定時間後，斷開恒電位電路，借助氧化劑（溶解氧或Hg（I）等）的氧化作用使電極表面的汞齊化金屬氧化成離子進入溶液中，即爲溶出過程。

　　電(diàn)聲法zeta電(diàn)位分析儀特點(diǎn)如下：

　　■超寬動(dòng)态光散射測(cè)量範圍：0.3~8000nm；

　　■可測(cè)納米粒子的三個重要要素：粒子直徑、Zeta電(diàn)位和分子量；

　　■樣品濃度從(cóng)ppm到百分之幾十，都能在原液狀态下取樣和測(cè)定；

　　■微量電(diàn)泳樣品池，可以測(cè)定僅100ul的Zeta電(diàn)位；

　　■廣泛應用於(yú)膠質粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體
、納米囊等的測(cè)定；

　　■取樣後，僅需按測(cè)定開始按鈕即可，操作簡單(dān)。

　　電聲法zeta電位分析儀可廣泛應用於(yú)生化、臨床分析、衛生防疫、環境監測(cè)、地質、冶金、化工、農業、科研等領域中的痕量分析。