原位納米粒度儀是基於光纖動态光散射（DLS）技術的納米級懸浮和膠體特性的*表征儀器 。監測納米顆粒合成，團聚或懸浮體系穩定性研究，幫助您實時分析樣品動力學。*的“時間切片” 功能允許VASCO KinTM 用戶對測試後的數據進行任意時間段内的粒徑分析。用戶可以獲得所選時間尺度的相應的相關圖和粒度分布。 穩頻激光光源，雪崩光電二極管（APD）探測器；可直接測量亞納米樣品（如蛋白質），無需稀釋 ，測量精度高。
原位納(nà)米粒度儀樣(yàng)品要求：
1)粉末藥品，確(què)保在水溶液中有良好的分散性 ，20毫克以上 ，隻能測(cè)水溶劑中性的
2)液體(tǐ)樣品 ，隻能以水爲溶劑(jì)
3)測(cè)試(shì)zeta樣品，選擇水爲分散介質
4)測(cè)定樣品在不同pH值條件下的粒徑和電(diàn)位，請自行調好pH值
5)有毒易揮(huī)發(fā)樣品請提前告知
6)樣品測(cè)試完畢(bì)要回收，請提前告知
原位納米粒度儀主要特點：
﹡採(cǎi)用新的動态光散射技術 ，引入能普概念代替傳(chuán)統光子相關光譜法
﹡異相多譜勒頻移技術 ，較之傳(chuán)統的方法，獲得光信号強度高出幾個(gè)數量級，提高分析結果的可靠性。
﹡可控參(cān)比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移産生的能譜，確(què)保分析的靈敏度。
﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少瞭(le)多重散射現象的幹擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確(què)性。
﹡快速傅利葉變(biàn)換算法，迅速處理檢測(cè)系統獲得的能譜，縮短分析時間。
﹡膜電極設計，避免産生熱效應，能準確(què)測(cè)量顆粒電泳速度。
﹡消除多種空間位阻對散射光信号的幹擾，諸如光路中不同光學元器件間傳(chuán)輸的損失，樣品池位置不同帶(dài)來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
原位納米粒度儀是一台高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，採用動态光散射法，結合“NIBS”光學器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSE還包含瞭電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位分析儀，以及靜态光散射法表征分子量。
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